作者：吳惠卿、陳烈夫、魏夢麗、呂秀英*

摘要：

葉面積是用來判斷洋香瓜生長發育的重要指標。本研究之目的在毋須使用任何昂貴的測量儀器下，以非破壞性取樣之方式，發展一個僅需測量葉片之長度及寬度的葉面積簡易估算模式。試驗材料為3個洋香瓜品種：天華 (Tianhun)、秋蜜 (Chioumih) 及朱芬 (Zhufen)，在農業試驗所2007年栽培期間取出各品種植株上各層植冠的葉片，測量其葉裂凹點至葉尖之主脈長 (L)、最大葉寬 (W) 及葉表面積 (A) 後，進行回歸分析 (regression analysis)。結果發現，3個洋香瓜品種間的葉形迥異，影響了不同葉面積估算模式的預測準確度。針對秋蜜及朱芬兩個洋香瓜品種，回歸式中以W²作為預測變數的葉面積估算模式具有最準確的預測效果，其估算係數分別為0.70及0.62；而天華品種則以A = 0.67 × L × W模式的預測準確度最高，其次A = 0.62  × L² 及 A = 0.71 × W² 也在可接受誤差範圍內。這些模式所預測的葉面積與實測葉面積之間可達1：1關係，且其各種預測準確度統計量皆較低，如均方誤差在451–762之間、總葉面積誤差率≦1.34%、以及單葉面積平均誤差率≦0.25%。透過本研究所建立之線性回歸模式，可免於破壞植株生長，簡單、快速、經濟且準確地估算出洋香瓜的葉面積。

關鍵字：葉面積、非破壞性估算、線性回歸模式、葉形、預測準確度

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